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广州德准:薄膜测厚仪的设计难点

阅读量: 1619次 发布时间:2024-01-26 19:26:35

  目前市场中包装材料种类很多,有金属的、非金属的,带光泽的、亚光的,单层的、复合的、共挤的等等。在满足规定的要求的情况下,高成本材料的厚度越小越能节约生产所带来的成本,厚度过大不但会造成原料的浪费,还会降低生产效益。很显然,材料的厚度控制只能靠测厚仪来检测。德准自主研发的全自动薄膜测厚仪工作台,结合德国马尔的显示器和传感器,确保测量数据的稳定性同时能快速、准确地测量各种薄膜的厚度,尤其适合锂电池隔膜。高效,精准、稳定性好。

  从测试原理上讲,常用的薄膜测厚仪有激光测厚仪、电容式测厚仪、电涡流测厚仪、机械式测试仪等。非接触式测厚设备都有自己擅长的检验测试领域,可用户无法购买多类测厚设备来检测材质可能不同的多种试样。机械式薄膜测厚仪是一种接触式薄膜测厚设备,多采用高精度传感器,因为它的测试只和微小位移有关,所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要根据位移传感器的精度,环境和温度和风速会影响传感器的精度,因此必须在实验室环境内使用。

  通过分析标准,能够准确的看出机械式薄膜测厚仪具有2大设计难点:首先是测量头压强大小的控制;其次是怎么来实现上下两测量面的高平行度。

  软包材在受压时会出现不可忽视的压缩形变,因此,测试时一定要严格遵守标准对试样接触面积及压强的要求。不同的标准对于测试面积、所施压强有不同的要求,例如同样是检测纸张的厚度,ASTMD645中要求所施加的压强是50kPa,但是ISO534中要求优选100kPa的压强。因此,在测试结果比对时,一定要注意测试标准及测试条件。

  同种原理的机械式薄膜测厚仪检验测试同一试样产生的不同测试结果,其根本原因就是测量过程中对试样所施加的压强不同所造成的,因为设备的开发是遵照标准做的。常用的简易测厚仪就是螺旋测微器,但是它所施加在试样上的压力不易量化,而且测薄膜和测纸张时施力都一样,这明显不符合有关测试标准的要求。因此仅比较试验结果,而未把测厚仪所施加的测试条件列入是很片面的。

  对测量头和测量底座有两个基础要求:测量头和测量座的两测量面相互平行,而且测量头的运动方向应该与测量座的测量面相垂直。在ASTMD645中有相关描述如下:测量头的表面应该与砧板的表面平行,相差保持在0.001mm之内。测量头应在与砧板表面相垂直的轴向上运动。其实保证测量头的运动方向与测量底座的测量面垂直也还是为了确保在测量过程中上下两测量面的平行,保证设备的测试精度。

  广州德准全自动薄膜测厚仪还具有强大的数据处理功能,能够自动记录测量结果,并进行数据分析和统计学处理,为用户更好的提供更加精确的测量数据和分析结果。能够长期保持高精度和稳定测量效果,相对于传统的手动测厚仪,它规避了人为操作,篡改的数据误差,同时全自动的测量方式为企业减少了人力成本和提高了生产效率。

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